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        重點設備介紹 網站首頁>重點設備介紹

        聚焦離子束(FIB)


        型號及主要參數:

        廠家:FEI(美國)

        型號:FEI-Scios 2 Hivac

        主要參數:

        離子束分辨小于3nm@30KV

        電子束分辨率:workspace<1nm@15KV,workspace<1.6nm@15KV

        樣品XY方向移動范圍不低于110nm,Z方向不低于60 nm,可繞Z軸旋轉任(360°

        意角度傾斜角度T范圍不小于-1590°


        用途及功能:

        掃描電鏡主要用于觀察、分析、記錄樣品的微觀形貌,

        聚焦離子束用于樣品微納米尺度下的切割、表面修飾、TEM制樣

        刻蝕能譜儀主要用于樣品元素分析


        特點:

        離子束與電子束雙束,實現聚焦離子束FIB切割與SEM形貌同步觀察


        掃描電子顯微鏡(SEM)


        型號及主要參數

        廠家:ZEISS(德國)

        型號:GEMINI 300

        主要參數:

        分辨率:0.7 nm@15 KV,1.2nm @15 KV

        放大倍率:12x-2000000x

        加速電壓:0.2-30kV

        五軸樣品臺:130 mm (X方向), 130 mm (Y方向), 50 mm (Z方向),-4°-70° (傾斜),360° (旋轉)


        用途及功能:

        掃描電鏡主要用于觀察、分析、記錄樣品的微觀形貌,

        能譜儀主要用于樣品元素分析


        特點:

        高分辨表面形貌成像


        X射線光電子能譜儀(XPS)
        紫外光電子能譜儀(UPS)



        型號及主要參數

        廠家:thermofisher(美國)

        型號:ESCALAB Xi+

        主要參數:

        XPS能量分辨率≤0.43 eV

        靈敏度: 大面積XPS,  Ag3d5/2(FWHM≤1.0 eV)強度大于106CPS

        角分辨ARXPS分析

        紫外光電子能譜(UPS)


        用途及功能:

        用于粉末、薄膜、塊狀等各種有機無機材料的表面幾個原子層(1-10 nm)的化學組成、價態的深度剖析、成像分析及功函數分析與表征。


        特點:

        高分辨XPS,UPS


        X射線衍射儀(XRD)




        型號及主要參數

        廠家:Bruker(德國)

        型號:D8 ADVANCE

        主要參數:

        X射線光管:Cu靶陶瓷X光管,功率2.2 KW

        掃描方式:立式θ/θ測角儀

        轉動范圍:-10°-168°,最小步長:0.0001°

        能量色散陣列探測器


        用途及功能:

        物相定性定量分析

        微光結構分析(微晶尺寸、微觀應力)

        粉末數據結構與結構精修

        小角度X射線散射


        特點:

        整列探測器,可測試小角度XRD


        原子力顯微鏡(AFM)




        型號及主要參數

        廠家:Bruker(德國)

        型號:Dimension ICON

        主要參數:

        XY方向掃描范圍90μm x 90μm,

        垂直方向掃描范圍10μm,

        樣品尺寸可達直徑210mm,厚度15mm


        用途及功能:

        表面形貌、粗糙度、相圖測試

        力曲線等力學性質測試

        電學性質如靜電力顯微鏡(EFM)、開爾文探針力顯微鏡(KPFM)、壓電力顯微鏡(PFM)、導電原子力顯微鏡測試(C-AFM)


        特點:

        高分辨形貌成像、電學性能測試模塊如EFM、PFM、KPFM、C-AFM


         核磁共振譜儀(NMR)



        型號及主要參數
        廠家:Bruker(德國)
        型號:AVANCE NEO 400MHz
        主要參數:
        射頻頻率范圍:6-440MHz,頻率分辨率≤0.005Hz
        靈敏度:1H≥500:1,13C≥220:1,15N≥25:1,31P≥150:1,19F≥500:1
        可測C13DEPT,二維譜Cosy、Noesy、HMBC、HSQC
        
        用途及功能:
        主要應用于有機化合物分析與性能研究
        
        
        特點:
        
        Bruker全新譜儀,快速出核磁結果
        
        
                                  激光共聚焦拉曼光譜儀(Raman)
                       
        
        型號及主要參數
        
        廠家:Renishaw(英國)
        型號:InVia Spectrometer
        主要參數:
        532 nm、785 nm波長激光器,激光光斑小于0.8 μm
        拉曼頻移范圍:532 nm包含50cm-1-9000cm-1,785nm包含50 cm-1-4000 cm-1
        靈敏度:不低于30:1,能觀察到硅的三階峰及四階峰
        光譜重復性:優于±0.02cm-1,可實現mapping功能
        
        用途及功能:
        主要應用于各種物質的分子組成、結構及相對含量分析,實現對物質的鑒別和定性研究
        
        
        特點:
        
        532 nm,785 nm雙波長激光器,拉曼Mapping成像
        
        
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